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晶體面角恒等定律如何定義顯微鏡檢測晶粒（之一）
結(jié)晶學(xué)的發(fā)展史中最重要的事件就是面角的恒等規(guī)
律，相同晶體中，它們的外形上都有一定的規(guī)律，
對于面角方面的應(yīng)用，其測量和投影的方法是可以
對晶體進(jìn)行恢復(fù)的，讓其保持在理想的外形，
但是想要對對稱要素和對稱型進(jìn)行檢查的話，那么
其晶體的常數(shù)就要進(jìn)行計(jì)算，還有晶面方面的符號，
這樣就可以將幾何結(jié)晶學(xué)的基礎(chǔ)進(jìn)行良好的奠定，
按照晶體不同格子的結(jié)構(gòu)，可以知道格子結(jié)構(gòu)中，
其所對應(yīng)的面網(wǎng)是晶面，
晶體的生長過程中，它們所對應(yīng)的網(wǎng)面在進(jìn)行往外
推移的時(shí)候，都是平行進(jìn)行的，最終其密度較大的面
網(wǎng)會被包圍。
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